SOC基于LFSR的混合模式测试

摘要：

随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展.系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用.SOC的测试中,内建自测试(Built.In Self-Test,BLST)成为人们研究的热点.文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨.

关键词：SOC、SOB、LFSR、混合模式测试、BIST

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：34-35,39