电子元器件贮存可靠性评估与预测的贝叶斯方法

摘要：

基于电子元件寿命试验的二项型数据信息,提出了电子元件贮存可靠性评估与预测的贝叶斯方法.利用环境因子将电子元件产品在不同贮存条件下的试验数据进行折合,依据贝叶斯理论对小样本下可能出现的数据"数据倒挂"进行预处理,并评估出其在各已知贮存时间点上的可靠度,再运用配曲线法得到产品的贮存寿命分布,进而对其贮存可靠度进行合理预测.最后,通过一个实例说明了方法的可行性.

关键词：电子元器件贮存、环境因子、贝叶斯方法、评估与预测、寿命分布

分类号：TJ410.6(弹药、引信、火工品)

在线出版日期：2008-01-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：45-46,67