10.3969/j.issn.1003-0107.2007.03.008
一种嵌入式RAM的BIST设计
本文分析了嵌入式RAM的传统测试方法和内建自测试(BIST)方法,提出了一种新的BI ST设计方案,该设计方案具有测试生成快,节约测试成本等优点.
片上系统、超大规模集成电路、RAM、BIST
TP319(计算技术、计算机技术)
2007-04-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
21-23
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10.3969/j.issn.1003-0107.2007.03.008
片上系统、超大规模集成电路、RAM、BIST
TP319(计算技术、计算机技术)
2007-04-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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