被动元器件典型案例分析和改进方法
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10.3969/j.issn.1003-0107.2006.11.011

被动元器件典型案例分析和改进方法

引用
本文使用八个案例,主要介绍了作者多年来在被动元器件领域的工作经验和体会,以及遇到的元器件典型失效分析和改进方法,从元器件的制造工艺和过程、整机厂使用元器件过程中应注意的问题,到测试方法的优化选择、检验标准的不断补充完善、产品特性的持续改进、失效样品的微观分析等各方面,说明元器件工程师所必须具备的可靠性分析和失效分析能力,从而把工作做得更好.

被动元器件、可靠性分析、失效分析

TN306(半导体技术)

2006-12-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

36-39

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1003-0107

44-1038/TN

2006,(11)

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