高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS)

摘要：

将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中,可在产品批量生产前消除设计缺陷,缩减研发时间和成本,快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力.

关键词：高加速寿命试验、高加速环境应力筛选、应力

分类号：TN306(半导体技术)

在线出版日期：2006-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：28-30