10.3969/j.issn.1003-0107.2005.04.011
集成电路可靠性应用技术
本文主要论述集成电路加速寿命测试理论方法和IC常见失效模式.加速寿命测试包括定性高加速寿命HALT测试技术和定量加速寿命测试Arrhenius model等,该测试技术主要应用于IC设计前端识别失效模式和IC设计定型阶段估算IC正常使用条件下的寿命信息,及时有效的评估IC设计平均寿命;在电子产品制造系统中,常常有两种失效模式:ESD静电损伤和LATCH-UP失效现象,对以上可靠性指标和理论作简要的论述.
Arrhenis Model、Hallberg-Peck Mode1、Coffin-Manson Mode1、Ese、LATCH-UP、人体放电模型、机器放电模型、充电元件模型、失效率、MTTF
TN306(半导体技术)
2005-08-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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