10.3969/j.issn.1003-0107.2003.02.001
用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试
文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间.
低噪声、半导体特性分析系统、超低电流测试
TM152(电工基础理论)
2005-08-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
7-9
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10.3969/j.issn.1003-0107.2003.02.001
低噪声、半导体特性分析系统、超低电流测试
TM152(电工基础理论)
2005-08-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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