一种厚膜片式电阻器抗硫化性能的快速评价方法

摘要：

为快速评价厚膜片式电阻器的抗硫化性能,提出了一种新方法.该方法以硫脲为硫源,将样品浸入一定温度的硫脲水溶液中,测试浸入前后的电阻变化率并进行评价.与目前以硫化氢、硫磺等为硫源的方法相比较,该方法在评价速度、环保性、安全性、操作便利性等方面具有明显优势.以银电极样品和抗硫化厚膜片式电阻器为对象,硫脲和硫化氢为硫源,做了两组对照实验,结果表明,硫脲溶液法的评价速度至少是传统硫化氢法的8倍.

关键词：厚膜片式电阻器、抗硫化、评价方法、硫脲

所属期刊栏目：41

分类号：TG172.3+3(金属学与热处理)

资助基金：广东省重点领域研发计划2019B090908005

在线出版日期：2022-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1038-1044