基于三参数威布尔函数法的光电器件寿命快速评估模型及其应用

摘要：

针对光电器件实现产业化面临的可靠性问题,将亮度作为性能退化指标,开展了多组恒定应力下的加速退化试验.基于测试器件的亮度衰减数据,采用三参数威布尔函数和右逼近法并结合寿命与应力之间的内在联系构建了一种加速性能退化的寿命快速评估模型.以电子显示器件VFD为试验对象,计算了正常应力水平下的平均寿命,实现了模型的应用及精度评价.结果表明,设计的四组加速退化试验方案合理,寿命快速评估模型无需借助周期长的常规寿命试验便能快速地获得产品正常应力下的亮度变化轨迹及寿命信息,这对光电器件可靠性评估及产品质量管理有一定的指导意义.

关键词：光电器件、加速退化试验、寿命评估模型、亮度衰减、三参数威布尔函数

所属期刊栏目：40

分类号：TN141;TN27(真空电子技术)

资助基金：国家自然科学基金 ;上海市科学技术委员会项目

在线出版日期：2021-03-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：137-143