低压铝电解电容器用腐蚀箔结构模型探讨

摘要：

分析了日本高性能低压腐蚀箔结构-性能特征,在此基础上讨论了腐蚀箔结构模型,并采用压汞仪测试和固态铝电解电容器性能测试进行模型验证.结果表明,规格为U179H和LT23B腐蚀箔的性能差异主要是由于孔喉结构差异导致的.为了维持电荷中性,Cl-离子倾向于聚集在蚀坑拐角处,促使拐角附近的薄弱点发生点蚀.而高浓度的Cl-离子利于与Al3+形成AlCl3盐膜,导致起蚀点附近的侧壁保持钝化状态,内部蚀坑呈现立方结构.立方蚀坑连接口处形成一个窄小的通道,影响腐蚀箔比容和固态铝电解电容器引出率.因此,降低低压箔的孔喉比参数是提升腐蚀箔性能的一个策略.

关键词：铝电解电容器、低压腐蚀箔、结构模型、孔喉比、比容、引出率

所属期刊栏目：40

分类号：TM535(电器)

在线出版日期：2021-02-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：36-41