基于统计检验的光电耦合器寿命预测模型研究

摘要：

基于统计学思想,提出了寿命预测过程的逆向检验方法,通过Shapiro-Wilk检验验证试验数据的分布特性,通过方差齐性分析检验实验过程老化机理一致性,通过显著性检验对回归方程的显著性进行检验.文章将该方法应用于光电耦合器的寿命预测过程,通过提出的逆向检验方法验证后,所得预测结果与生产厂家提供的参考寿命接近.实验结果表明该方法能够有效地检验试验数据和评估模型的适用性,进一步提高光耦寿命预测的准确性,同时该方法对其他器件的寿命预测也具有一定的借鉴价值.

关键词：统计学、逆向检验、Shapiro-Wilk检验、方差齐性分析、显著性检验、光电耦合器

所属期刊栏目：39

分类号：TN36(半导体技术)

在线出版日期：2020-05-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：68-74,79