10.14106/j.cnki.1001-2028.2019.03.012
G1J50M合金磁性能退化预报模型与微观机理
为丰富可靠性工程的基础研究,针对温度加速试验的G1J50M软磁合金进行显微组织与磁性能演化规律分析.G1J50M合金在加速贮存期间饱和磁化强度发生不可逆退化.加速贮存破坏了G1J50M合金畴壁附近磁矩的排列,磁畴形状改变,畴宽分布范围增大,从而使自发磁化场强度逐渐减弱.G1J50M合金饱和磁化强度值在贮存当量20年内退化约4.82%.基于磁畴宽度的磁性能退化预报模型将有助于指导并优化稳定化贮存工艺.
G1J50M合金、饱和磁化强度、磁畴、退化模型、可靠性
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TH823
国家自然科学基金联合基金U1637201
2019-04-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
67-70,76