高可靠固态厚膜熔断器耐脉冲能力研究

摘要：

熔断器在经受一定循环次数脉冲电流冲击后会产生寿命疲劳,进而发生产品熔断失效.选取航天器用高可靠固态厚膜熔断器作为典型品种,开展高可靠固态厚膜熔断器的耐脉冲能力研究,将影响熔化热能I2t值的峰值电流和脉冲冲击时间作为变化因子设计不同的试验条件,对试验结果及数据进行系统、深入地分析,得到了高可靠固态厚膜熔断器在不同脉冲I2t值下降额使用因子和关系曲线,为后续航天型号任务选用该结构熔断器提供借鉴.

关键词：高可靠固态厚膜熔断器、脉冲次数、I2t、冷态电阻、变化因子、关系曲线

所属期刊栏目：37

分类号：TM277(电工材料)

在线出版日期：2018-04-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：58-63