10.14106/j.cnki.1001-2028.2015.11.002
随机振动下板级组件焊点可靠性研究进展
针对板级组件焊点在随机振动下的可靠性问题,对与之相关的实验研究成果和仿真结果进行了综述。首先介绍了球栅阵列(BGA)封装芯片焊点失效的位置,BGA焊点的材料以及BGA参数和印制电路板(PCB)参数对焊点可靠性的分析,并介绍了疲劳寿命预测方法和子模型法、特殊结构的随机振动分析。最后,提出了随机振动情况下的BGA结构的优化方法。
焊点、随机振动、综述、有限元分析、失效、可靠性、板级组件
TN43(微电子学、集成电路(IC))
2015-11-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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