触点初始接触电阻的分布特征与寿命相关性研究

摘要：

为实现用初始信息来预测继电器产品的寿命，在继电器电寿命试验的基础上，提出用核概率密度估计法和多项式拟合法对触点初始接触电阻的分布特征进行分析，并研究了初始接触电阻与寿命的相关性。研究结果表明：各个继电器初始接触电阻的变化趋势不同，起伏不定。当初始接触电阻连续出现大电阻值后，即使接触电阻随后重新回到正常值，继电器仍会很快发生失效，寿命较短；继电器初始接触电阻拟合曲线的最大值与寿命之间呈现近似线性关系。

关键词：继电器、触点、接触电阻、核概率密度、多项式拟合、初始信息、寿命

分类号：TP202.1(自动化技术及设备)

资助基金：国家自然科学基金资助项目No.51377044；高等学校博士学科点专项科研基金资助项目No.20121317110008；河北省科技支撑计划资助项目13214303D；13214604D

在线出版日期：2014-11-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：104-107