温度应力下基于步进加速退化试验的电子器件寿命预测

摘要：

为实现高可靠性长寿命电子器件的寿命预测,根据Arrhenius模型,结合产品的线性退化轨迹模型,对于温度应力下性能退化性步进加速寿命试验,提出一种不同温度应力下时间折算方法,并且推导了它们之间的变化计算公式.在四种不同的温度下,对某型号集成运放进行步进加速试验,并利用此方法处理数据.结果表明,样品的伪寿命符合对数正态分布,其加速模型符合Arrhenius加速方程,据此可以求出样品中位寿命,实现寿命预测.

关键词：电子器件、寿命预测、可靠性、性能退化、步进加速试验、中位寿命

所属期刊栏目：33

分类号：TB114.3(工程基础科学)

资助基金：河南省科技发展计划科技攻关资助项目132102210441;2012河南省科技攻关计划资助项目122102210549

在线出版日期：2016-06-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：72-76