MOD法生长LaMnO3缓冲层工艺的研究

摘要：

采用金属有机沉积(MOD)法在LaAlO3(LAO)单晶基片上沉积了LaMnO3(LMO)缓冲层薄膜,通过控制LMO薄膜关键生长工艺(如退火温度、退火时间),系统地研究了薄膜微结构的变化.实验表明:在较宽的退火温度窗口范围均能获得单一取向生长的LMO薄膜,但其面外织构特性受退火温度和退火时间的影响很大.在退火温度为750℃,退火时间为60 min的最优工艺条件下,制备的LMO缓冲层具有纯c轴取向.在该LMO缓冲层上沉积的YBa2Cu3O7-x(YBCO)超导薄膜的临界电流密度为1.0× 106 A/cm2,成功证明MOD法制备LMO缓冲层的可行性.

关键词：LMO缓冲层、YBa2Cu3O7-x(YBCO)超导薄膜、MOD法、生长工艺、涂层导体、临界电流密度

所属期刊栏目：33

分类号：TM26(电工材料)

资助基金：国家自然科学基金资助项目50902017

在线出版日期：2016-06-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：20-23