非同轴微波器件测试夹具的设计与应用

摘要：

由于非同轴微波器件接口的特殊性，无法直接与同轴接口的矢量网络分析仪相连进行测试，非同轴器件的微波性能测试面临较大的困难，目前，国内非同轴器件的测试技术已严重滞后其设计开发工作。对非同轴微波器件接口进行了深入研究，设计了针对非同轴微波器件测试的分体式夹具，解决了去嵌入技术问题，并以实例验证了该测试装置的正确性。大量测试表明，该夹具测试传输准确度优于0.2dB。

关键词：非同轴微波器件、测试、夹具、去嵌入技术

所属期刊栏目：30

分类号：TN63(电子元件、组件)

在线出版日期：2011-12-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：60-63