10.3969/j.issn.1001-2028.2009.01.011
氧气浓度对ZnO薄膜表面形貌和微结构的影响
采用反应磁控溅射技术,在SiO2基底上制备了ZnO薄膜.通过原子力显微镜(AFM)和X射线电子能谱仪(XPS)对薄膜表面形貌及微结构进行了表征,分析了氧气浓度(体积分数为40% ~ 60%)对薄膜表面形貌和微结构的影响.结果表明:随着氧气体积分数的增大,薄膜c轴晶向生长减弱,表面形貌趋向平整,氧化反应程度增强;φ(O2)为60%时,薄膜表面粗糙度约为3 nm,其内部的r(Zn : O)接近1:1.
无机非金属材料、ZnO薄膜、氧气浓度、形貌、结构
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O484.1(固体物理学)
陕西省外国专家局专项科研基金资助项目05JS02
2009-03-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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