多层片式ZnO压敏电阻器内电极材料研究

摘要：

把三种不同钯银比例的浆料用作多层片式ZnO压敏电阻器(MLCV)的内电极材料,并研究了它们对MLCV电性能的影响.结果表明:含钯内电极材料的压敏电阻的电性能,明显优于纯银内电极的压敏电阻.压敏电阻的限制电压与压敏电压比(Vc / V1mA)及漏电流(IL)随着钯含量的升高而减小;非线性系数(α)、峰值电流(Ip)及能量耐量(ET),随着钯含量的升高而提高.分析认为,随着内电极材料中Ag含量的升高,Ag+的扩散增加,导致晶粒电阻增加,即施主浓度(Nd)减少,势垒高度(φ)升高,致使MLCV的电性能劣化.

关键词：电子技术、多层片式压敏电阻器、电性能、内电极材料、钯含量

所属期刊栏目：24

分类号：TN304(半导体技术)

资助基金：广东省广州市科技攻关项目2002Z2-D0011

在线出版日期：2005-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：8-9