电子元器件的贮存可靠性及评价技术

摘要：

综述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,分析了元器件贮存失效模式及原因,表明减少元器件自身缺陷、改善固有可靠性是提高其贮存可靠性的关键.并从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析.

关键词：电子技术、贮存可靠性、综述、长期贮存试验、极限应力试验、加速贮存寿命试验

所属期刊栏目：24

分类号：TN601(电子元件、组件)

在线出版日期：2005-08-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：61-64