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10.3969/j.issn.1001-2028.2005.05.017

MLCC制造中产生内部开裂的研究

引用
从内电极设计、内浆(内电极浆料)的选择、内电极干燥工艺等方面对MLCC内部开裂的原因进行了深入研究,结果表明,通过测试瓷膜与内浆的热收缩曲线,选择收缩率相接近的瓷膜与内浆来制作MLCC;调试选用合适的内电极干燥温度、时间;改变内电极设计,在产品中间层加一个厚度2~5倍于其它介质厚度的不错位夹层,MLCC内部开裂几率由原来的5.1%下降到目前的0.38%.

电子技术、MLCC、内部开裂、内电极浆料、设计

24

TM534+.1(电器)

国家高技术研究发展计划863计划2001AA32G030

2005-06-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

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1001-2028

51-1241/TN

24

2005,24(5)

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