10.3969/j.issn.1001-2028.2004.07.016
退火温度对碳注入外延硅蓝光发射特性的影响
获得了不同退火温度注碳外延硅的蓝光发射谱,分析了退火温度对其蓝光发射特性的影响,发现退火温度为1 000℃样品具有最强的发射强度.认为经碳注入所引入的杂质C = O复合体是发光的重要因素;经碳注入氮气氛中退火及电化学腐蚀处理形成纳米硅镶嵌结构,因量子限制效应–表面复合效应而发光.
注碳外延硅、蓝光发射、纳米硅镶嵌结构、氮气氛中退火
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TN304.24 (半导体技术)
国家自然科学基金60071006
2004-08-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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