10.3969/j.issn.1001-2028.2001.03.005
用扫描电镜-微粒分析仪测量粉末样品
利用扫描电镜配备微粒分析仪(SEM/MPA)对粉末样品作了形貌观察和粒度统计分布测定,表明SEM/MPA可在陶瓷工艺、冶金工艺等材料工程中实际应用。
扫描电子显微镜、微粒分析仪、粉末测量
20
TN16;TN604(真空电子技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
10,15
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10.3969/j.issn.1001-2028.2001.03.005
扫描电子显微镜、微粒分析仪、粉末测量
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TN16;TN604(真空电子技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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