抗干扰用MKP型金属化聚丙烯薄膜电容器的tgd

摘要：

以X2类MKP型金属化聚丙烯薄膜电容器为例分析了影响该类电容器tgd 的主要因素。指出薄膜的方阻大小、芯子的错边、喷金粒子的大小、喷金前芯子端面上的灰尘是导致电容器芯子在经过赋能、成品耐电压试验、脉冲电压试验后tgd 变大的主要原因。在这类电容器制造过程中应严格控制这些因素。

关键词：抗干扰、金属化聚丙烯薄膜电容器、损耗角正切

所属期刊栏目：20

分类号：TM533+.3 (电器)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：7-9