10.3969/j.issn.1001-2028.2001.02.002
ZrO2薄膜离子导电性能的研究
用四电极法测量了自制ZrO2-9% Y2O3电解质薄膜的高温电导率,并研究了其离子导电性能。结果表明,高温下ZrO2薄膜的电导率比块状ZrO2材料大一个数量级,ZrO2薄膜的电导率与温度之间的关系满足Arrhenius方程,符合离子迁移数大于0.99的要求。
氧化锆膜、电导率、四电极法
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TM281 (电工材料)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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