透射电子显微镜原位低温高频信号样品杆的研制

摘要：

透射电子显微镜原位测试技术是未来电子显微学发展的聚焦方向,尤其是多种原位条件复合的特种样品杆,是目前科学研究急需的重要设备.本文简述了原位低温高频脉冲信号样品杆的设计方案,通过样品杆和芯片设计,实现样品在低温、电流、磁场和高频脉冲信号作用下的原位测试,可以实现100～300 K的连续变温,实现10 MHz～2 GHz高频脉冲信号的通入,可对微纳尺度功能材料在多种物理场作用下的结构与性质变化进行深入的分析.

关键词：透射电子显微镜、原位样品杆、高频脉冲信号、芯片设计

所属期刊栏目：42

分类号：TG14;O469;O59(金属学与热处理)

资助基金：国家重点研发计划;国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;浙江省实验室基础设施建设项目

在线出版日期：2023-07-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：325-329