双联碳膜解决纳米晶体在TEM中碳污染的研究

摘要：

在透射电子显微镜(TEM)中,电子束会引起碳污染,为了研究纳米晶体在TEM表征过程中碳污染问题的解决方案,选取油胺中合成的Au2Bi纳米晶体,分别用超薄碳膜和超薄双联碳膜制备样品,并用TEM进行表征.研究结果表明,利用超薄双联碳膜制备样品,明显降低了纳米晶体的碳污染现象,大大提高了电子显微镜图像的质量.同时,从碳污染形成的原理方面,分析了超薄双联碳膜能够缓解碳污染产生的原因,是因为两层碳膜将样品固定在一起,可以有效阻止有机配体的扩散.这种有效且简便的方法有助于TEM研究受配体诱导污染的纳米晶体材料.

关键词：碳污染、透射电子显微镜、超薄双联碳膜

所属期刊栏目：42

分类号：TN16;TH842;TB39;TG115.21(真空电子技术)

资助基金：国家自然科学基金No.11904372

在线出版日期：2023-05-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：223-229