10.3969/j.issn.1000-6281.2023.01.011
脑皮质突触结构透射电镜统计方法的探索
利用透射电镜(TEM)对神经突触结构进行统计学分析,虽然在近年来的神经科学研究中已被一些学者使用,但由于脑组织TEM样品较小,突触结构涉及亚细胞统计学,所以如何设计统计源,以保证其具有代表性与客观性是至关重要的问题,至今仍未建立成熟一致的标准.本文针对大鼠特定脑区,采用"三级定位法",建立了一种突触结构的TEM统计分析方法,简单并具有客观性,被应用于多项神经生物学研究.该方法可为动物行为学、电生理学和神经分子生物学实验提供客观的亚细胞统计学佐证,可为相关研究提供参考方法.
脑组织、突触、透射电镜、统计分析
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Q336(人工选择与自然选择)
2023-03-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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