脑皮质突触结构透射电镜统计方法的探索

摘要：

利用透射电镜(TEM)对神经突触结构进行统计学分析,虽然在近年来的神经科学研究中已被一些学者使用,但由于脑组织TEM样品较小,突触结构涉及亚细胞统计学,所以如何设计统计源,以保证其具有代表性与客观性是至关重要的问题,至今仍未建立成熟一致的标准.本文针对大鼠特定脑区,采用"三级定位法",建立了一种突触结构的TEM统计分析方法,简单并具有客观性,被应用于多项神经生物学研究.该方法可为动物行为学、电生理学和神经分子生物学实验提供客观的亚细胞统计学佐证,可为相关研究提供参考方法.

关键词：脑组织、突触、透射电镜、统计分析

所属期刊栏目：42

分类号：Q336(人工选择与自然选择)

在线出版日期：2023-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：75-79