核壳结构的Cu/NiO和Cu/Cu2O纳米线的等离激元研究

摘要：

本文对Cu(核)/NiO(壳)和Cu(核)/Cu2 O(壳)纳米线的显微结构以及等离激元特征分别进行了研究.在扫描透射电子显微学模式下对两个样品分别进行了电子能量损失谱面扫描,使用不同的能量范围成像可以区分表面等离激元以及体等离激元特征峰的分布区域.研究表明表面等离激元的影响区域超过了纳米线的实际边界.通过测量样品表面等离激元特征峰的衰减距离,发现其最强点均接近纳米线内侧边缘,且和表面形态有关.

关键词：表面等离激元、体等离激元、电子能量损失谱、扫描透射电子显微学

所属期刊栏目：41

分类号：O539;O463+.1;TG115.21+5.3(等离子体物理学)

资助基金：国家重点研发计划;国家重点研发计划;国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;中国科学院战略性先导科技专项;中国科学院青年创新促进会项目

在线出版日期：2022-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：528-534