量子点在透射电镜中的电子辐照损伤行为

摘要：

本文以ZnCdS和CsPbBr3量子点为例,研究了量子点在透射电镜中的电子辐照损伤行为.研究表明:低倍率(<100 k)下量子点受到的辐照损伤较小,对成像的影响可以忽略;在高倍率(400 k)下,电子束辐照会对量子点造成极大的损伤,导致其形貌和结构都产生明显的改变;光强越大,辐照时间越长,样品的损伤越严重.本文同时介绍了一种偏转光路的拍照技巧,可以有效地减少电子束辐照对量子点的结构破坏,并获得清晰度较高的高分辨图像.

关键词：电子束辐照损伤;量子点;TEM观察

所属期刊栏目：41

分类号：TB82;O483;TB32;TG115.2(摄影技术)

资助基金：中国科学院重点实验室开放基金No.KLIFMD201807

在线出版日期：2022-03-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：15-19