透射电子显微镜-能谱中载网支持膜所含杂质成分的影响与分析

摘要：

载网支持膜是透射电子显微镜测试的前提与保障,但在透射电子显微镜-能谱测试中发现其存在外源杂质元素污染的情况.对市面上的各类常规载网支持膜进行检测,显示其均含有杂质元素Si.外源杂质元素的存在严重造成了样品透射电子显微镜-能谱数据结果的误差.为防止杂质元素的干扰和混淆,本文分析确认了载网支持膜杂质的来源,是由于制膜过程中未去除含Si助剂的清洗剂成份,而其生成的硅胶SiO2与Formvar膜生成了氢键结合,吸附于支持膜表面.

关键词：载网支持膜;透射电子显微镜;能谱分析;杂质;Si

所属期刊栏目：40

分类号：O652.1;O657.62(分析化学)

资助基金：浙江大学实验技术研究项目No.SJS202009

在线出版日期：2021-11-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：616-622