10.3969/j.issn.1000-6281.2018.06.002
PbTiO3/SrTiO3(001)复杂畴组态和缺陷的研究
用透射电子显微镜对PbTiO3/SrTiO3(001)薄膜内部所形成的复杂畴组态以及畴壁处的位错进行了系统的研究.透射电镜结果和几何相位分析(GPA)表明,薄膜内部两个交叉的a畴内部出现了180°畴壁,导致在局部区域形成了全闭合畴结构,在铁电畴壁处观察到高密度位错.高分辨HAADF-STEM像分析显示,在90°畴壁处容易形成a<011>型位错,在180°畴壁处容易形成a<100>型位错,表明位错的形成与铁电畴壁类型存在强耦合关系.
铁电薄膜、畴组态、铁电畴壁、晶格缺陷
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TB383;O77;TG115.21+5.3(工程材料学)
国家自然科学基金资助项目51571197;中国科学院前沿重点研究项目资助QYZDJ-SSW-JSC010
2019-01-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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