无卷边单分子层WS2纳米片原子结构的高分辨电子显微术研究

摘要：

本文利用高分辨电子显微术(HRTEM)确定了无卷边的单分子层WS2纳米片的原子结构像.通过对样品不同区域HRTEM像进行傅里叶变换(FFT)分析,得到了各个区域的WS2纳米片的晶体取向,确定了WS2纳米片分子层数分布.根据电子显微像强度与样品层数的线性关系以及WS2纳米片的单分子层数分布模型,确定不同区域WS2纳米片的分子层数.为了进一步定量分析结果的正确性,通过模拟电子显微像在不同碳膜厚度及不同成像条件下WS2纳米片的HRTEM像,也确定了在像衬度上与实验像很好的匹配.

关键词：单层WS2纳米片、高分辨电子显微术、衬度模拟

所属期刊栏目：36

分类号：TG146.411;TB383;TG115.21+5.3(金属学与热处理)

资助基金：国家自然科学基金资助项目11474294;浙江省自然科学基金资助项目LY14E020010

在线出版日期：2017-06-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：96-102