10.3969/j.issn.1000-6281.2015.02.012
透射电子显微镜三维重构技术及其在材料研究领域的应用
透射电子显微镜( TEM)三维重构技术是一种基于TEM用以表征材料三维空间结构的分析测试技术。本文对TEM三维重构技术进行简要介绍,并以Tecnai G2 F20场发射透射电镜三维重构为例介绍了实际操作过程中的经验及其在纳米、半导体等材料研究领域的应用。
三维重构、透射电镜
O766+.1;TG115.21+5.3(晶体结构)
实验室安全及设备管理教改项目-图像重构技术No.58333007.
2015-05-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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