10.3969/j.1000-6281.2014.05.005
二氧化钒纳米线相变过程中的偏折现象研究
通过真空气相凝聚法制备了单晶二氧化钒纳米线,利用SEM和TEM对纳米线的形貌和结构进行了表征,并确定了其在硅基底上的生长状态.在透射电镜下的原位加热实验中,发现经过可控形核处理的二氧化钒纳米线在相变之后会出现宏观上的偏折现象,经过进一步的实验和计算,发现是由不垂直于纳米线轴向的相界面所诱发的应力不对称导致的偏折.在光学显微镜下受基底束缚的纳米线的原位加热实验也证实了这一观点.
二氧化钒纳米线、原位加热、金属绝缘体相变、偏折
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TB383;TG146.4+13;TG115.21+5.3(工程材料学)
教育部长江学者奖励计划;北京市人才强教资助项目
2014-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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