外延BiFeO3薄膜的TEM显微结构表征
外延BiFeO3薄膜中丰富的结构与特殊的性能一直是近年来研究的热点.显微结构的研究不仅可以帮助人们进一步认识BiFeO3的结构信息,还可以帮助人们深入了解BiFeO3结构与性能间的关系,开拓新的应用领域.本文利用球差校正高分辨透射电子显微镜对外延在LaAlO3过渡层/Si基底上的BiFeO3薄膜进行研究.通过原子尺度的定量分析,在应力状态复杂区域观察到类菱方相、应力释放后恢复的菱方相以及拉应力状态下c/a值小于1的类菱方相,并在该区域观察到109°铁电畴,且畴间存在4.4°的畸变夹角.还观察到比较大的c/a比.
多铁性、高分辨电子显微术、铁电畴、菱方相
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TB34;O76;TG115.21+3(工程材料学)
国家自然科学基金资助项目51071092;教育部留学回国人员科研启动基金资助项目50971015;教育部全国百篇优秀博士论文作者专项;科技部创新方法项目2010IM031300
2013-01-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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