复杂介观结构的电子断层扫描解析

摘要：

电子断层扫描术(ET)是在透射电镜基础上发展出来的一种更为先进的表征手段,能有效地在不同尺度上解析多种材料的三维结构,利用一系列不同角度的倾转照片进行三维重构.ET技术最先应用于生物和医学等领域,目前正逐步发展并推广到材料科学研究领域用以研究纳米材料的形貌和结构.本文作者利用此技术得到不足1 nm厚度的超薄ET切片,完全消除了样品厚度影响,揭示了隐藏在介孔材料内部的结构特征,成功地解析了复杂的介砚结构.

关键词：电子断层扫描技术、超薄切片、三维重构、介观结构

所属期刊栏目：29

分类号：TG115.21+5.3;TN16;O7(金属学与热处理)

资助基金：中澳科技合作特别基金

在线出版日期：2010-09-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共12页

页码：244-255