原子点阵分辨率下的原位力学性能实验

摘要：

自20世纪30年代(1932年)透射电子显微镜发明以来[1],特别是近二十年来,透射电子显微学技术在以球差矫正技术为代表的空间分辨率[2]、单色光源为代表的能量分辨率、高速CCD相机为代表的时间分辨率[3]等领域都取得了巨大进步,为物理学、化学、生物学、材料科学、电子信息技术等领域的科技进步做出了巨大贡献[4-9].与此同时,原住外场技术作为透射电子显微学近年的重要发展方向之一[10-11],已经为越来越多的研究领域所关注.透射电子显微学原住外场技术为物理学、化学、生物学、材料科学、电子信息技术等领域的深入科学研究提供了崭新物理图像,为发展新原理、新应用提供了重要机遇.直接在原子点阵尺度研究物质的结构及其演化过程是理解物理、化学和材料科学的重要基础.经过几年的持续努力,作者通过原创性技术发明,解决了一个国际瓶颈性技术难题,即如何在透射电子显微镜中原位变形纳米尺度物体,并对其同时进行双轴大角度倾转,以实现外场作用下原子点阵分辨水平的原住观察.这一技术发明实现了在原子点阵分辨率的原位观察下,对纳米单体材料进行纳米力学及相应结构演化过程间关系的研究.

关键词：原子点阵、原位变形、原位观察、原位力学性能、TEM

所属期刊栏目：29

分类号：O3;O7;TG115.21+5.3;TN16

在线出版日期：2010-09-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共22页

页码：191-212