二氧化硅微球的扫描电镜测长及形貌观察条件

摘要：

本文用日立S-4800型冷场发射扫描电镜对不同粒径二氧化硅微球进行测长研究及形貌观察,针对二氧化硅材料特性和工作目标,使用多种测试条件,通过结果对比,分别获得测定二氧化硅微球直径和进行形貌观察的适宜条件.

关键词：扫描电镜、二氧化硅微球、形貌、直径

所属期刊栏目：27

分类号：TG115.21+5.3;O713(金属学与热处理)

资助基金：科技部重大科学研究计划2006CB932606;中国科学院知识创新工程重要方向项目KJCW-YW-M03支持

在线出版日期：2009-01-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：384-389