STM/STS在纳米结构电子态和输运性质研究中的新进展

摘要：

本文介绍了扫瞄隧道显微术及扫描隧道谱(STM/STS)半导体、金属量子点及单分子电子态和电子输运性质研究的最新进展.STM具有高的空间和能量分辨率,不仅可用于表面和纳米体系的结构表征,而且可用于研究表面和纳米结构局域电子态和电子输运性质.半导体、金属量子点及单分子通常具有分立的电子能级结构.利用STM的探针空间局域的探测能力和较高的能量分辨本领,近年来有大量工作对这些低维体系的电子态进行了研究,对这些体系单体结构的电子输运性质研究获得了有趣的新结果.

关键词：扫瞄隧道显微术/扫描隧道谱、量子点、单分子、纳米结构、电子态、电子输运

所属期刊栏目：26

分类号：O47;O48;TG115.21;TG115.21;TH742.9(半导体物理学)

资助基金：国家自然科学基金20473077

在线出版日期：2008-04-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共17页

页码：370-386