Au-MgF2团簇薄膜TEM图像二值化阈值选取的研究

摘要：

用透射电镜(TEM)观察磁控溅射制备Au-MgF2团簇薄膜的形貌,对团簇薄膜TEM图像采用灰度平均值法和Boltzmann拟合参数法进行二值化处理,并用分形理论表征薄膜中Au团簇的分布规律.结果显示:随着Au体积分数从6.0%增加到49.0%,用灰度平均值法所得分形维数由1.851增大到1.869,而由Boltzmann拟合参数法所得分形维数从1.669逐渐增大到1.941.两种方法所得分形参数均能表征Au团簇的尺寸和分布复杂程度随体积分数的变化规律,而由Boltzmann拟合参数法所得结果还能很好地表征不同体积分数薄膜Au团簇分布的差异性.

关键词：Au-MgF2团簇薄膜、TEM、二值化阈值、分形表征

所属期刊栏目：26

分类号：O484;TB383;O766.+1(固体物理学)

资助基金：国家自然科学基金50642038;高等学校博士学科点专项科研项目20060357003;安徽省人才基金2004Z029;安徽省教育厅自然科学基金KJ2007B135;安徽省高校青年教师科研项目2006jql192;安徽大学校科研和教改项目

在线出版日期：2007-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：189-194