利用能量过滤TEM获取外延量子点的成分信息

摘要：

半导体量子点应用于许多关键的现代科学技术中.量子点的尺寸和成分对决定量子点光电性质十分重要.由于量子点的尺寸很小,表征量子点的成分及其分布是一项很有挑战性的任务.本文综述了能量过滤透射电子显微术如何应用于量子点成分的研究.

关键词：半导体量子点、光电性质、透射电子显微术、电子能量损失谱

所属期刊栏目：25

分类号：O471.1;O766+.1;O657.62(半导体物理学)

在线出版日期：2006-08-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：208-213