利用MFM研究薄膜厚度对Co60Fe20B20薄膜磁畴结构的影响

摘要：

本文利用磁力显微镜(MFM)主要研究了由磁控溅射法制备的Co60Fe20B20软磁薄膜的厚度变化(2.5nm～400nm)对薄膜磁畴结构的影响.在室温下观察到垂直各向异性随薄膜厚度的增大而增大.从薄膜的表面形貌像观察到在溅射过程中薄膜温度随薄膜厚度增大而升高.当薄膜厚度小于20nm时,磁畴尺寸随薄膜厚度的增大而增大;当薄膜厚度大于20nm时,磁畴尺寸随薄膜厚度的增大而减小;厚度在20nm附近时,畴壁尺寸达到一个最小值.

关键词：磁畴、Co60Fe20B20软磁薄膜、薄膜厚度、垂直各向异性

所属期刊栏目：25

分类号：TG115.21+5.7;TB383;TM27;O484(金属学与热处理)

在线出版日期：2006-08-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：200-203