T3铜的电子背散射衍射(EBSD)花样分析

摘要：

@@ 材料的性能主要由显微特征决定,如:成分,织构等.本文采用INCA Crystal电子背散射仪,对T3紫铜晶体材料进行了衍射花样分析,从试样中选定矩形区域或任意形状的区域进行面扫描,获得极图、反极图、欧拉角分布图、晶粒尺寸、重位点阵晶界的分布和显示、取向和位向差数据.织构自动识别,并标定出不同织构类型所占的百分比等信息.

机标关键词：电子背散射衍射、织构类型、自动识别、重位点阵、显微特征、矩形区域、晶体材料、晶粒尺寸、花样分析、分布图、散射仪、欧拉角、面扫描、反极图、紫铜、性能、形状、信息、显示、数据

所属期刊栏目：24

分类号：TG1(金属学与热处理)

在线出版日期：2005-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

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