TEM图像分析测定片状粉体的三维粒度分布

摘要：

@@ 目前,多数粒度仪是以球形颗粒为模型设计的.用于由大量片状颗粒构成的粉体的测定,误差较大,测定结果不能反映不同方向的尺寸.由于片状颗粒处于平躺和竖立状态的图像差别很大,仅对其两维图像进行分析,难以给出三维粒度结果.为此,提出了金属投影透射电镜(TEM)图像分析测定粉体三维粒度分布的新方法.金属投影以后,样品的背后形成一电子透明的阴影区.通过图像分析测量颗粒的影长,计算大量颗粒的高度.

机标关键词：图像、分析测定、片状粉体、三维、粒度分布、片状颗粒、透射电镜、投影、球形颗粒、模型设计、颗粒构成、金属、分析测量、测定结果、阴影区、新方法、粒度仪、状态、样品、误差

所属期刊栏目：23

分类号：TB3;O6(工程材料学)

在线出版日期：2004-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：427-427