GaN缺陷晶体高分辨电子显微像的解卷处理

摘要：

@@ 拍摄高分辨电子显微像时未必总靠近Scherzer聚焦条件[1],且晶体有一定厚度,致使像未必反映晶体结构.对高分辨像进行解卷处理[2]是校正像中畸变的晶体结构信息并提高图像分辨率的有效方法.本文用高分辨像图像解卷处理方法[3]研究GaN材料中缺陷核心的原子配置.

机标关键词：缺陷晶体、高分辨电子显微像、解卷处理、晶体结构、高分辨像、图像分辨率、结构信息、处理方法、原子、校正、配置、拍摄、畸变、厚度、材料

所属期刊栏目：23

分类号：TB3;O6(工程材料学)

资助基金：国家自然科学基金50072043

在线出版日期：2004-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：361-361