用扫描压电显微术观察不同掺杂PZT薄膜的铁电畴分布

摘要：

我们用扫描压电显微术,观察了未掺杂和掺La、Eu的PZT的铁电畴分布,结果表明: 在自发极化下,用溶胶-凝胶法得到的PZT,(Pb0.93La0.07)(Ti0.6Zr 0.4)O3, (Pb0.95Eu0.05)(Zr0.52Ti0.48)O3和(Pb 0.9Eu0.1)(Zr0.52Ti0.48)O3的表面铁电畴呈现较大的不同,掺 La和掺Eu的样品均比未掺杂的有较大的自发极化.含Eu为5%时自发极化强度最高,且大部分畴界位置与晶界接近.通过改变加在探针上交变电压的幅值,观察铁电畴衬度的变化,可以看到 ,当交变电压升高时,某些畴变得不稳定,极化方向不同于自发极化,而衬度随交变电压线性增加,表明该区域晶粒在垂直方向贯通膜面,矫顽力高于外电场,且无明显的缺陷所致的压电性损失.

关键词：铁电薄膜、扫描力显微术、铁电畴、掺杂PZT

所属期刊栏目：22

分类号：TH742;O767;TN16(仪器、仪表)

资助基金：国家自然科学基金;东南大学校科研和教改项目

在线出版日期：2004-03-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：172-175