分子取向的高分辨率扫描隧道显微术

摘要：

本文介绍了一种借助于扫描隧道显微镜的空间高分辨能力探测单个分子取向的方法.利用这种方法,我们研究了以下四种体系中的分子取向:二维C 60分子阵列;C 60(111)多层膜表面;吸附在Si(111) (7×7)表面的C 60单分子;Au(111)表面的硫醇自组装单分子层膜.结合局域密度近似方法理论计算,我们确定了以上体系中的分子取向.

关键词：扫描隧道显微镜、分子取向、C60

所属期刊栏目：21

分类号：O484.1;TN16(固体物理学)

资助基金：中国科学院自然科学基金G1999075305

在线出版日期：2004-03-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：306-310