薄膜形貌的AFM观察
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1000-6281.2000.04.101

薄膜形貌的AFM观察

引用
@@ 八十年代末九十年代初发展起来的纳米科学技术已成为倍受科技界关注和重视的热门领域,被认为是面向二十一世纪的新科技.而基于扫描隧道显微镜(STM)基本原理而发展起来的一系列扫描探针显微镜(SPM)无疑为纳米科技的诞生与发展起到根本性的推动作用,同时纳米科技的发展又将为SPM的应用提供广阔的天地.

薄膜形貌、纳米科技、扫描探针显微镜、扫描隧道显微镜、纳米科学技术、二十一世纪、热门领域、新科技、科技界、原理、应用

19

TB3(工程材料学)

国家自然科学基金59735110

2006-09-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共2页

593-594

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子显微学报

1000-6281

11-2295/TN

19

2000,19(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn